Die meisten industriellen CTs habenGranitstrukturWir können herstellenGranit-Maschinensockelbaugruppe mit Schienen und Schraubenfür Ihr individuelles Röntgen und CT.
Optotom und Nikon Metrology haben die Ausschreibung für die Lieferung eines Großraum-Röntgen-Computertomographie-Systems an die Technische Universität Kielce in Polen gewonnen. Das Nikon M2-System ist ein hochpräzises, modulares Prüfsystem mit einem patentierten, ultrapräzisen und stabilen 8-Achsen-Manipulator auf einer messtechnisch hochwertigen Granitbasis.
Je nach Anwendung kann der Benutzer zwischen drei verschiedenen Quellen wählen: Nikons einzigartige 450-kV-Mikrofokusquelle mit rotierendem Target zum Scannen großer und dichter Proben mit Mikrometerauflösung, eine 450-kV-Minifokusquelle für Hochgeschwindigkeitsscans und eine 225-kV-Mikrofokusquelle mit rotierendem Target für kleinere Proben. Das System ist sowohl mit einem Flachbilddetektor als auch mit dem von Nikon entwickelten CLDA-Detektor (Curved Linear Diode Array) ausgestattet, der die Röntgenstrahlensammlung optimiert, ohne unerwünschte Streustrahlen einzufangen, was zu einer beeindruckenden Bildschärfe und einem beeindruckenden Kontrast führt.
Das M2 eignet sich ideal für die Prüfung von Teilen unterschiedlicher Größe – von kleinen Proben mit geringer Dichte bis hin zu großen Materialien mit hoher Dichte. Die Installation des Systems erfolgt in einem speziell dafür errichteten Bunker. Die 1,2 m hohen Wände sind bereits für zukünftige Upgrades auf höhere Energiebereiche vorbereitet. Dieses voll ausgestattete System wird eines der größten M2-Systeme weltweit sein und der Universität Kielce extreme Flexibilität bieten, um alle möglichen Anwendungen aus Forschung und Industrie zu unterstützen.
Grundlegende Systemparameter:
- 450 kV Minifokus-Strahlungsquelle
- 450 kV Mikrofokus-Strahlungsquelle, Typ „Rotating Target“
- 225 kV Strahlungsquelle vom Typ „Rotating Target“
- 225 kV „Multimetall-Target“-Strahlungsquelle
- Nikon CLDA-Lineardetektor
- Paneldetektor mit einer Auflösung von 16 Millionen Pixeln
- die Möglichkeit, Bauteile bis 100 kg zu prüfen
Veröffentlichungszeit: 25. Dezember 2021